老化测试设备系列

BURN-IN SYSTEM SERIES | 老化测试设备系列

COBIS-II IDTC 系列(单独通道温度控制)

COBIS-II TBI SERIES/TTI COBIS-IISBI SERIES

COBIS-II AQG SERIES (SiC & Gan) (HTRB | HTGB | H3TRB| DRB | DGB | DH3TRB)

Trio-Tech 根据客户需求制造和定制测试室。开发自己的图形用户界面控制软件，并与现有驱动板集成。根据客户要求设计和制造老化/高温操作寿命(Burn-In/HTOL)板和驱动板。为特定应用开发定制固件。

最大64个老化插槽(可选项：双/四腔室(多个温度区域)和其它要求的 尺寸)

48 / 160通道驱动程序解决方案可用

大型散热能力125℃时5.4千瓦/7.5千瓦。(也可选用高达 2千瓦的方案)